将样品在实验前从包装袋中取出，切至为大小均一的巧克力块。测试前，对TA.XTC质构仪进行检查，对力量感应元进行清零。将探头和样品调整至合适的高度，进行重量校准（单次下压一定距离时，不需对高度进行校准），随后将样品放置在探头的中心下，根据试验需要，选择所需测试指标（大正力），开始试验。

用TA.XTC质构仪通过穿刺试验测试不同品牌巧克力的硬度的原理是一旦感应力达到5g，探头开始穿刺6mm的深度。力开始快速的增加由于穿透了样品表面，然后力开始保持稳定的状态，直到实验结束。A样品硬度小，峰值少，而B样品硬度大，峰值多，这是由于A样品在刺穿的过程中，未断裂，且巧克力内层结构明显较外层软，所有在个峰值后突然减小；而B样品在刺穿过程中均断裂，所以有多个峰值出现。显然在保证样品结构不改变（不断裂）的情况下，数据重复性更好。

数据分析：分析曲线大正峰值, 2种样品，进行6次重复的分析结果(+/-SD.)（不合适数据需剔除），如下：样品A的坚固性的大正峰值是979.6+/-67.45；样品B的坚固性的大正峰值是3313.45 +/-85.75。样品的均一性对于试验结果非常重要；测试过程中，对于一些不确定是否重复性好的测试（样品凹槽处刺穿），需*行检验，若不行，则剔除；可以修改实验参数，比如穿刺的深度，这将改变硬度的数值。任何一个数值的获得都是同穿刺的深度关联的；储存、包装和处理样品对实验而言都是可变的参数。保持这些参数的一致对实验数据的对比有着重要的意义。