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主要针对镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量。
特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且，它还十分适合于测量黄金及其他贵金属，分析金的成分重复性可达0,5 %.
能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱*.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多层镀层的样品也一样能胜任.轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的*.可测量各类金属层、合金层厚度。
对于镀层：不仅可以测量其成分比例，还可以测量厚度!
