半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测厚仪-,测厚仪深圳市金东霖科技有限公司手机版

半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测厚仪

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产品简介

是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。

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