美国BOWMAN X射线荧光膜厚测厚仪
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深圳市金东霖科技有限公司
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半导体 BOWMAN X射线荧光测厚仪
传统的楔切法，光截法，电解法，都是有损检测。BOWMAN（博曼）膜厚测试仪，采用*的X射线荧光测试原理，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器，这种测量方法可以实现连续的实时在线测量。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费。
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