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| 微机型2050型涂层测厚仪 型号:K4-Leptoskop | 货号: |
| 具有2041型所有特点 硬件全部安装在探头内 计算机装载测量软件，作为测量仪器 各种不同用途探头与计算机相连后即可直接投入使用 直接形成图形评判和测量文件 多点校正 测量范围：要据探头，铁基zui大到10000um。非铁基zui大到1000um。 PC-LEPTOSKOP，是膜层测厚装置的探头，它可 和普通PC的串口线相连。普通膜层测厚仪的仪器功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的PC软件接收。在PC显示器上，可显示仪器，所有功能可通过键盘或鼠标的点击完成。探头无需额外的电源：除了有检测铁磁基体表面的非磁性涂层和电导体材料的非导电层（厚达1200 mm ）的探头外，还有高检测精度的微探头，适用于不同结构的小零件以及探测12mm厚的双杆探头和其他大量的附件。 新型的手持式电池操作终端LEPTOSKOP 2051,所有的PC-LEPTOSKOP探头可以不带PC操作：探头可简单的插入手持终端。LEPTOSKOP 2051有普通测厚仪具备的功能。这个仪器甚至可以单手操作。测量值显示菜单相对于LC显示很大。需要的仪器功能可简单的从屏幕选择，通过按ENTER键予以确认。按两个可选择的键可以很快的进入经常使用的功能，在使用中可自由的选择和转换。 LEPTOSKOP 2051 拓宽了PC探头的使用范围，应用的传感技术和数字输出：同样的探头技术与多样性，还有用于主要的台式PC操作、生产装配车间、工地使用的探头。新型的LEPTOSKOP 2051与传统的仪器相比具有相对的经济性，另外,它保持了所有与PC连接的元件和现代的传感技术。 |
