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LX8-CIT-3000SMB 能量色散X 荧光分析仪产品配置:
采用进口的美国AMPTEK 航天技术的SI(PIN)半导体探测器系列
采用*数字脉冲采集电路及的电源管理技术
采用进口的X 光管
采用进口的的X 光管高压电源
采用专有金属滤光片技术和切换技术
采用精密的系统控制电路和数字处理电路
采用专有的分析算法软件模块V2.0A
配备专业的卤素测试模式和RoHS 测试模式
配备Dell 的In 双核CPU 电脑(1G 内存、160G 硬盘)
配备Dell 17”宽屏高清液晶显示器
配备USB2.0 蓝牙适配器
配备高档的激光打印机
配备的制样机
配备的PDA
配备的测试薄膜、测试样杯
配备的测试标样一套
CIT-3000SMB 能量色散X 荧光分析仪技术指标:
分析元素范围:S-U;
元素含量分析范围:1ppm -99.99%(采用1024 道多道分析器,分析精度更高);
采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合的数字脉冲处理技术,能量分辨率优于
139eV;
测量范围:1-40KeV;
重复性:<0.1%;稳定性:< 0.01%;
高压:5kV-40kV(激发源为进口 40KV-钨靶微型X 射线管);
管流:5μA-200μA;(可减少整机功耗和降低辐射);
整机功率:4W;
整机能量分辨率:150±5eV;
检测时间: 300S(一键完成从ROHS 测试开始到卤素测试结束);
仪器重量:3Kg;
仪器尺寸:250(W)X120(D)X350(H)mm;
工作环境温度:温度0-40℃;样品温度<70℃;
zui低检出限: Pb/Cd/Hg/Br≤10ppm, Cr≤30ppm,Cl≤80PPm;
工作环境相对湿度:≤99%(不结露);
测量物质状态:固体、粉末、液体均可测,制样简单;
校正方式:采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据;
一体化设计,性能稳定,运行可靠,性价比高;操作简单,测量时间短,同时配备掌上PDA,分析
仪通过无线蓝牙技术可单独和PDA 进行通信测试,方便使用;
稳定精确的卤素测试模式 (Cl 总含量和Br 总含量)和精确的RoHS 测试模式;
Cl 的检测下限达80ppm,技术指标遥遥水平(Cl 元素检测受其他干扰元素影响小,精度高);
适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE 有害元素(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)检测;
钢铁、铝业、水泥、有色、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测;
专业精确卤素检测;
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