XAU光谱分析仪

XAU光谱分析仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-12-25 16:01:01
167
产品属性
关闭
江苏一六仪器有限公司

江苏一六仪器有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

测量面积:最小0.03mm²镀层分析:23层镀层24种元素仪器特点:可变焦对焦仪器优势:同元素不同层分析:服务宗旨:一六仪器 品质

详细介绍

1590471727855041.jpg

性能优势:

1.微小样品检测:最小测量面积0.03mm²(加长测量时间可小至0.01mm²)

2.变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

3.的EFP算法:Li(3)-U(92)元素的涂镀层,多层多元 素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量。   

4.的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限。   

5.高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积25mm²探测器。   

6.X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置。 

1572251340124202.png

一六仪器研制的测厚仪的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。


的EFP算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

1572251526113711.jpg

RoHS检测及标定

1572251623115088.jpg

1572251723142564.jpg

1596085422923246.png



标签:   膜厚仪 测厚仪 一六仪器 一六测厚仪 一六膜厚仪 X荧光光谱仪 X荧光光谱测厚仪  X荧光光谱测厚仪 XAU XTU
上一篇:Keit Spectrometers:开创工业过程在线FTIR分析的新时代 下一篇:芬兰Timegate时间门控拉曼光谱仪用于研究材料在高温条件下的相变过程
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话: