过去的X射线荧光光谱仪难以高灵敏度地分析很小的样品。
对于因分辨率不足即使X射线强度足够也难以进行的电子部件、电路板以及食品中的异物等微小局部的测定，
本装置可进行高灵敏度、高分辨率、分析直径zui小至50mm的分析。
●测定原理 x射线荧光分析法
●测定方法 能量散射型
●测定对象 固体、液体、粉体
●测定范围 13AI ~ 92U（mEDX-1200） 11Na ~ 92U（mEDX-1300） 13AI ~ 92U（mEDX-1400）
●x射线管 Rh靶
●检测器 Si（Li）半导体检测器 （mEDX-1200,1300）,Si漂移半导体 检测器（mEDX-1400）
●样品型状 zui大150mm×150mm×40mmH
