自动考种分析及千粒重仪系统详细介绍：

1、主要用途：
该仪器是根据图像识别原理来实现自动分析的。目标照明模式可在背光和普通日光之间切换。可用于各类农作物实粒种子（水稻、小麦、大麦、豆类、玉米、油菜籽、燕麦、咖啡豆、小扁豆、瓜子等）的全面精确考种、各类粮库的虫口计数分析，以及出苗数、整齐度、均匀度分析，可兼做表面光滑的昆虫计数或虫卵计数（如：米象、蚜虫、蚕卵、鱼籽等），以及被当作种子净度工作台用于种子净度检验。
2、主要技术指标：
★配1000万像素分辨率的彩色数码拍摄仪，及超薄的背光光源板，具有相机画面畸变、背光板均匀性的自动矫正特性，有效减小尺寸测量误差。拍照分析的种粒直径0.5～20mm。稻种的实粒与秕谷需经风选，再分别计数分析。选配中晶ScanMaker i600 Plus上下LED双光源彩色扫描仪，能自动聚焦、亮度可调，实现600dpi（1428万像素）以上光学分辨率的均匀背光、暗视野成像。
★全自动数粒速度：1200～20000粒/分钟，数粒误差≤±0.1~0.4%，极少监视修正即达*正确。全自动千粒重分析的精度误差：≤±0.5%。适用于各类农作物实粒种子的自动精确考种、各类粮库的虫口自动计数，以及出苗数、整齐度、均匀度分析，显示和输出计数结果。
★能自动测出各类粘连种粒的每粒粒形参数（长、宽、长宽比、面积、周长、圆度、等效直径等），并排序输出。配有种子厚度定位板，可自动测量被测种粒的各粒厚度参数。各类种粒的各尺寸测量误差≤±0.1mm。具有对被分析目标颜色、形状进行自学习和再学习，并实现自动分类的特性。扫描仪配置颜色校准模块，图像颜色符合相关颜色标准，具有RHS比色卡的比色特性。
辅助删补：用鼠标选择增加/删除，或直接用鼠标在屏上手工计数，以确保*正确目标区的个性化计数：对工作区视野中任选范围或矩形范围内的计数。
分析数据导出：分析图像结果可保存，自动形成总报表，统计分析结果能输出至Excel表，以及，以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。
★具有被测样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口。分析过程为电脑控制，高效、准确、简便易用，计数分析与千粒重测量一键式操作，屏幕一点，结果即现。具有软件的许可和认证，内置支持网上在线升级的模块。
注：本技术标书中打★款项必须响应，否则为重大偏离
3、供货基本配置：

4、 *电脑配置（需另配，由投标的经销商在当地找供应商）
品牌一体机触摸屏电脑（四核CPU / 4G内存/500G硬盘/DVD刻录/ 21.5”彩显/无线网卡，2个USB3.0口+3个USB2.0口，Windows 7完整专业版或完整旗舰版）
山东方科种子数粒、考种、米质检测系列仪器型号及配置
型号
产品详细描述
SC-E
大米外观品质检测分析仪系统（配Microtek ScanMaker i800 plus双光源扫描仪、快速铺米器）
SC-G
种子自动考种分析及千粒重仪系统（配1mg精度220g量程电子天平、500万像素种粒成像装置、超薄发光板等）
SC-G
含果穗
种子自动考种分析及千粒重仪系统（含玉米果穗考种）（配1mg精度220g量程电子天平、500万像素种粒拍摄仪、超薄发光板、A3幅面紫光M1彩色扫描仪）
SC-G
微小种
种子自动考种分析及千粒重仪系统（配1000万像素种粒成像装置、中晶i600双光源扫描仪、超薄发光板）
SC-A
(配1mg精度电子天平、500万像素种粒成像装置、超薄发光板）
SC-X
小麦外观品质和面粉麸星检测仪（配Microtek ScanMaker i800 plus双光源扫描仪、1mg精度220g量程电子天平及数据线、三目体视显微镜+300万像素相机、微型手动移动平台，快速铺粒器、紧粉用成像小盘）
SC-H2
（标配≥7寸平板电脑、LED背光成像装置、电源适配器、透明种盘）
重要说明：
1、以上产品除了SC-H2，其他未说明的所有仪器均需另配电脑。
2、SC-H2为免培训产品，产品提供3年免费升级及远程答疑，如需上门培训，服务费另加。
3、除了SC-H2，其他产品方科公司提供到用户单位现场操作培训和性能验证一次。
4、产品保修期：验收合格日起，本司产品硬件保修期1年，软件3年内免费升级及远程支持，*维护。标准供货期：4～5周。
5、含17%抵扣增值税发票。