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C40E-0304CF010 高级SICK测量光栅的系列概述 SICK高级型测量光幕/测量光栅主要用于复杂的应用场合。SICK测量光幕/测量光栅产品系列丰富,包含不同的光点间距,检测高度和输出类型。可用在输送带上物体的分拣,自动化存储和自动化检索和全自动化的订单处理系统。例如在托盘测量检定应用中,托盘上物体的zui大高度和是否超限均可被检测出来,且数据可以很简便的通过总线传送至PLC控制器中。
非常简便的集成到系统中;集成Profibus接口;精度可选10/20/30/50mm,且接受定制客户化的精度要求;zui大8.5m的工作距离;检测高度zui大可达3m和zui多240个光点;极短的响应时间<9ms;可通过外部信号进行敏感度的自示教;
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