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AL 分析天平----简单称量任务的低预算天平
操作简单，易于读取的液晶显示屏是梅特勒-托利多经典系列基础型天平的特点
AL 分析天平主要特点：
·采用全新电子线路、配合高速CPU及ASIC芯片，快速获得准确的称量结果
·清晰的液晶显示屏和键盘按键设计，方便用户使用
·多级数字滤波和补偿技术，优化天平在不同称量条件下的操作性能
·ABS工程塑料机架，具有良好耐腐蚀、抗冲击性能，确保天平结构轻便、坚固
·内置多种称量应用程序：基础称量、计件称量、百分比称量、减重称量、动态称量、称量值检索
| AL 分析天平技术参数： |
| zui大称量范围 | 110 g |
| 可读性 | 0.0001 g |
| 线性 | ± 0.0002 g |
| 重复性 | 0.0001 g |
| 稳定时间（典型） | 4 s |
| 外部砝码校准 | 100 g |
| 去皮范围 | 0...110 g |
