SEM2000是一款基础款的多功能分析型钨灯丝扫描电镜。20 kV分辨率可以做到3.9 nm，支持升级30 kV电压，可观察亚微级尺度样品的微观结构信息。拥有比台式电镜更大的移动范围，适用于快速筛选待测样品，更多的扩展接口，可搭载BSED、EDS等附件，使应用领域更广。

分辨率

加速电压

放大倍数

3.9 nm @ 20 kV

0.5~20 kV

（30 kV可选）

1~300,000x

产品特点

▶简洁的操作界面

▷ 纯中文的操作界面

功能设计简单易操作。符合国人使用习惯，即使是新手用户，简单了解后也能快速上手。

▷ 完善的自动化功能

自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散，均可一键调节，提高工作效率。

▷ 丰富的测量工具

长度、面积、圆度、角度等测量功能强大的照片管理和预览、编辑功能。

▶特色功能

▷ 光学导航

想看哪里点哪里，导航更轻松

标配光学导航摄像头，可拍摄高清样品台照片，快速定位样品。

▷ 防撞设计

对新手更友好的防碰撞设计，限度保护敏感单元。

▷ 一键成像

*软件一键成像，新手也能轻松驾驭。

▷ 分析距离

分析距离和成像距离二合一，轻松体验优质性能。

▶多种信息同时成像

SEM2000软件支持一键切换SE和BSE的混合成像。可同时观察到样品的形貌信息和成分信息。

▶分辨率指标

▶丰富的扩展性

▷ 高灵敏度背散射探测器

- 多通道成像

探测器设计精巧，灵敏度高，采用4分割设计，无需倾斜样品，可获得不同方向的阴影像以及成分分布图像。

- 二次电子成像和背散射电子成像对比

背散射电子成像模式下，荷电效应明显减弱，并且可以获得样品表面更多的成分信息。

▷ 能谱

金属夹杂物能谱面扫分析结果。

▷ 电子背散射衍射

钨灯丝电镜束流大，满足高分辨EBSD的测试需求，能够对金属、陶瓷、矿物等多晶材料进行晶体取向标定以及晶粒度大小等分析。 该图为Ni金属标样的EBSD反极图，能够识别晶粒大小和取向，判断晶界和孪晶，对材料组织结构进行精确判断。

应用案例

产品参数

电子光学系统

电子枪类型

预对中型发叉式钨灯丝电子枪

分辨率

3.9 nm @ 20 kV（SE）

4.5 nm @ 20 kV（BSE）

放大倍率

1 x～300,000 x

加速电压

0.5 kV～20 kV

成像系统

探测器

二次电子探测器（ETD）

*背散射电子探测器、*能谱仪EDS等

图像保存格式

TIFF、JPG、BMP、PNG

真空系统

高真空

优于5×10-4 Pa

控制方式

全自动控制

泵

机械泵×1，分子泵×1

样品室

摄像头

光学导航

样品台配置

两轴自动

行程

X: 100 mm

Y: 100 mm

软件

语言

中文

操作系统

Windows

导航

光学导航、手势快捷导航

自动功能

自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散

特色功能

智能辅助消像散、大图拼接（选配软件）

安装要求

房间

长 ≥ 3000 mm，宽 ≥ 4000 mm，高 ≥ 2300 mm

温度

20 ℃～25 ℃

湿度

≤ 50 %

电气参数

电源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA