工业显微镜的三种测量方法
工业用显微镜是人类进入原子时代的标志，是一种由一个或多个透镜组合而成的一种光学仪器，一种将微小物体放大成为人类肉眼所能看到的仪器。工业用显微镜首先要说的是体视显微镜，主要用于现场检查，PCB,液晶等行业用的比较多。其次是金相显微镜符合材料分析等，钢铁及金加工行业要求测量显微镜，更多的应用于微电子及精细加工业。
一、轴切法
轴切法是利用显微镜的标记对通过测件轴心线并利用测量刀上的刻线进行瞄准定位的测量方法。测量刀是万工显的附件。其表面有一刻线，刻线至刃口的尺寸为0.3和0.9毫米两种，测量时，把测量刀放在测量刀垫板上，刻线面通过测件的轴线，并使测刀的刃口和被测面紧紧接触，用相应的米字线去瞄准，测量两把测刀刻线间的距离，就间接测得被测件的测量值。为了避免测量中的计算，在中间垂直米字线的两侧刻有两组共四条对称分布的平行线，每组刻线对中心刻线的距离分别为0.9和2.7毫米，它正好是测刀的刃口到刻线间的距离0.3和0.9毫米的3倍。这样用3倍物镜瞄准时，分划板上的0.9和2.7毫米刻线正好压住测刀上的0.3和0.9毫米刻线，这时测刀上的刃口正好被米字线的中间刻线所瞄准。主要用于螺纹中径测量。
二、影像法
影像法是利用显微镜的标记，对影像法进行瞄准定位的测量方法。测量时，通常是先用(米字线)分划板上的刻线瞄准测件影像的边缘，并在读数显微镜上读出数值，然后移动工作台以同一条刻线瞄准测件影像的另一边，再作第二次读数。两次读数的差，就是被测件的测量值。
三、接触法
接触法是利用显微镜的标记对和紧靠测件测量点、线、面的万工显附件-光学测孔器的测头连在一起的双刻线进行瞄准定位的测量方法。测量时将光学测孔器的测头紧靠件(内、外)表面。当测量孔径时，首先使测头与测件内孔接触，取得弦长后，使米字线中间刻线被光学测孔器的双套线套在中间，并在读数显微镜读取一数；然后改变测量方向，使测头在另一侧与测件接触，同样使米字线分划板的中间刻线仍被光学测孔器的双套线套在中间，在读数显微镜上读取另一数。两次读数的差，再加上测头直径的实际值，即为测件的内尺寸，如减去测头直径的实际值，即为测件的外尺寸。
以上就是关于工业显微镜测量方法的介绍，相信大家在阅读后对此有了相应的了解，不同的测量方法各自的适用范围不同，在选择时要根据自行需求来选择，希望对您有所帮助。
