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SEM+EDS扫描电子显微镜

型号
离子检测仪
东莞斯坦德仪器设备有限公司是一家专业的实验室解决方案提供商,集实验室方案设计,检测设备提供,设备维护与保养为一体,整体化解决方案是斯坦德优势之所在。 制造业企业产品中有毒有害物质,材料成分分析,可靠信赖性,环境安全等四大领域一直以来是我们重点关注的方向,在这四大领域中,为了更好更高质量的服务我们的客户,我们与各大学院校,科研咨询机构,检测认证机构,国际厂商紧密合作,积极开拓并利用新知识,新思路,将新技术全力推广转化为社会效益,为各企业降低成本,提高效益。公司目前在东莞,武汉,苏州,重庆等地均有联络服务点,已经基本覆盖华南区,华中区,华东区,西南区的大部分客户,越南服务点年内将会建立。 斯坦德本着:“品质源于精密,品质创造未来”的态度,认真地把客户交代的每一件工作做好。同时积极开拓,精诚与来自各地的客户,诚信互助,密切合作,是国际诸多企业的合作伙伴。追求“客户全面满意”是斯坦德全力追求的目标。 斯坦德本着:“品质源于精密,品质创造未来”的态度,认真地把客户交代的每一件工作做好。同时积极开拓,精诚与来自各地的客户,诚信互助,密切合作,是国际诸多企业的合作伙伴。追求“客户全面满意”是斯坦德全力追求的目标。 斯坦德作为美国INNOV. 美国戴安. 安捷伦. 英国牛津OXFORD等国际产品提供商在国内的渠道以及售后服务签约商,我们积累了解掌握了对于各行业的法律法规,的分析技术,化的产品解决方案,结合斯坦德专业的知识,专业的服务,我们已经累积了为近三百家企业提供产品与服务的宝贵经验,他们主要集中在地质矿产. 有色金属. 钢铁,塑胶五金,电子电器,电镀,PCB,箱包鞋材,饰品首饰,半导体,化妆品,汽车等行业。协助企业积极专业地应对要求,为企业降低成本,保驾护航,是我们的使命! 目前我们主要提供的产品与服务有:XRF测试仪,ROHS检测仪,ROHS2.0分析仪,ROHS无卤分析仪,邻苯6P/7P/15P/22P分析仪,直读光谱仪,离子色谱仪,合金分析仪,稀土矿石分析仪,GC-MS气相色谱质谱联用仪,各类湿化学以及XRF等设备的维修保养,实验室整体设计,安装,法律法规教育训练等。 以客户为中心,并与之共奔前程,此为斯坦德长治久安之根本! 选择斯坦德,就意味着选择了专业的服务,选择了性价比的产品,选择了同舟共济的合作伙伴!

详细信息

In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA 分析型扫描电子显微镜

主要特长

优秀电子光学系统                                                             In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA是日本电子株式会社推出机型,沿袭日本电子的优秀电子光学系统,集合了分析扫描电镜精髓功能,设计精简自动化程度高。

使用多点触摸屏,操作舒适                                              In Touch Scope JSM-6010PLUS/LA通过多点触控技术和的操作软件,操作直观简单。只需轻触屏幕就能操控各种功能,舒适便捷。新开发的操作界面简明易懂,即使是SEM新手也能轻松获得高品质的SEM图像,进行EDS元素分析。

能适应各种环境的可移动式扫描电镜                                             In Touch Scope扫描电镜,在手边的PC上就可以进行观察和分析。只要移动触摸屏,在远离装置的地方也能够进行操作。(无线模式操作为选配件)。In Touch Scope主机用脚轮即可移动。

标准配置EDS分析功能的分析型扫描电镜                                          标准配置EDS分析功能的JSM-6010PLUS/LA,不仅能获取高分辨率的图像,在低真空模式下观察非导电性样品,还采用了无需液氮制冷的EDS检测器 (DRY SD),能够进行定性分析、定量分析、元素面分布。此外,搭载的大型全对中形样品台可以对应各种样品。

JSM-6010PLUS/LA性能参数

Main Performance on JSM-6010PLUS/LA

Performance

(一) 主要性能 

HV Mode Resolution

高真空模式分辨率 (SE像)   4.0nm @ 20KV   WD 8mm

8.0nm @ 3KV    WD 6mm

15.0nm  @ 1KV  WD 6mm

LV Mode Resolution

低真空模式分辨率 (BE像) 5.0nm @ 20KV  

Magnification

放大倍数                                                              ×8~×300,000 

Detectors

探测器 Secondary Electron Detector

二次电子探测器

★Semiconductor Backscattered Electron Detector(patent)

半导体型背散射电子探测器(技术)

Image Mode

图像模式 Secondary Electron Image 

二次电子图像

REF Image

REF像

Composition Image (Backscattered Electron Image)

成份像 (背散射电子图像) 

Topography Image (Backscattered Electron Image)

形貌像 (背散射电子图像) 

Shadow Image (Backscattered Electron Image)

立体像 (背散射电子图像) 

Live Image Display

实时图像显示 Dual Live Image Display, Split Live Image, 

双实时图像同时显示, 分割实时图像显示 

Accelerating Voltage

加速电压 0.5KV ~ 20KV

Low Vacuum Degree

低真空度 10 to 100 Pa (Settable with graphic menu)

(软件控制菜单设定)

Probe Current

探针束流 1pA ~ 0.3uA

Electron Optics

(二) 电子光学系统 

Filament

灯丝                                     Factory pre-centered tungsten hairpin filament

工厂预对中钨灯丝

★Gun Bias Voltage

电子枪偏压 Seamless automatic bias

无缝式自给偏压, 连续调整

Gun Alignment

电子枪合轴 Auto alignment

自动合轴

Filament Heating

灯丝加热 Auto heating

自动加热

★Condenser Lens

聚光透镜                                 Two stage zoom type condenser lens – (patent)

变焦聚光透镜系统 – 技术

★Objective Lens

物镜 Super conical type objective lens

超级锥形物镜

Objective Lens Aperture

物镜光阑 1 step, Fine position adjustment in X and Y directions

1孔固定,可在X和Y方向微调

Focus

聚焦 Auto/Manual focus

自动/手动聚焦

Stigmator

像散 Auto/Manual stigmator

自动/手动消像散

★Stigmator Memory

像散存储器                               Standard,  Auto/Manual

标准配置,自动/手动补偿像散

★Electrical Image Shift

图像移动                                 X-Y , ±50um

Specimen Stage

(三) 样品台 

Type

样品台类型 Eucentric type stage 

全对中样品台

Traverse

行程                                    

 X     :  80mm;

Y     :  40mm;

Z     :  5 ~ 48mm;

倾斜 T:  -10 ~ +90°

旋转 R:  360°连续endless

Maximum Specimen Size

样品尺寸 150mm diameter & 48mm height specimen can be inserted

可装直径150mm高度为48mm的样品

Maximum Size of Observation

观察视野 125mm diameter

直径125mm

Image Display

(四) 图形显示 

Pixels

显示像素 640×480,1280×960,2560×1920,5120×3840

Image Process

图像处理 Averaging, Linear, Contrast, Gamma, Multi level, Patial enhance, Reverse, Pseudo color, Multi image

平均值, 灰度修正, 反差增强, 伪彩, 二及四分屏, 2及4倍数码变焦

File Save

文件存储格式 BMP, TIFF, JPEG

Operation System

(五) 操作系统   

PC

计算机 23英寸触摸屏式台式电脑

OS :  Windows 7 (英语版)

Metrological function

(六) 测量功能 

Distance between parallel lines

平行线间距测量 Horizontal, vertical, diagonal

垂直, 水平, 对角

Distance between 2 points

2点之间距离测量 Distance between any 2 points

任意2点间距离

Circle

圆的测量 Diameter

直径

Distance between 2 circle centers (not supported by the touch-panel operation)

2个圆中心间距离(触摸屏操作下不支持此功能)

Angle

角度测量 Angle

角度

Area

面积测量 Area of circles and polygons

圆和多角形

Count

计数 Particle count

颗粒计数

Vacuum System

(七) 真空系统 

Ultimate Pressure

真空度 HV mode 0.1mPa

高真空模式 1×10-4Pa

LV mode 1mPa(at the specimen chamber pressure 27Pa)

低真空模式1×10-3Pa(当样品室真空为27Pa时)

Evacuation Time

抽真空时间 HV mode 3 min

Pump System

真空泵系统                              One TMP, One RP

一个分子泵, 一个机械泵

Safety devices

(七) 安全装置 Power failure, Water failure, Pressure rise, Leak current

断电,断水,泄压,漏电保护

Auto Function 

(八) 自动功能 Auto gun control, Auto focus, Auto stigmator, Auto contrast and brightness

自动电子枪控制,自动聚焦,自动消像散,自动反差和亮度

Miscellaneous

(九) 扩展接口 EDS 能谱仪、Chamber Scope红外相机、Probe Current Detector束流监视器

EDS Performance:

(十)能谱仪主要性能 

Detector

探测器 Box SDD detector (no liquid nitrogen needed)

电制冷方式Box SDD 探测器 – 不用液氮

Effective area of detector

探头有效扫描面积 10 mm2

Detector movement

探测器移动 Fixed

固定

Resolution

分辨率 129eV or better (55Fe, 5.9 keV, 1000 cps)

Detectable element range

元素分析范围 B(5) to U(92)

硼  至 铀

Window

窗口 Atmospheric pressure-resistant, Ultra-thin film

抗大气压的超薄窗

X-ray take-off angle

取出角 35°(WD:10mm)

Cooling

制冷方法 Peltier cooling

Standard Function Built in

标准搭载功能 Qualitative Analysis 定性分析

Quantitative Analysis 定量分析

Active Mapping 活区面分析

Point Analysis   点分析

Probe Tracking 束流追踪

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