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参考价：
起订量：
超高分辨率场发射扫描电子显微镜 SU9000
- 型号
扫描电镜 离子溅射仪
昆山瑞塞奇精密仪器有限公司 主营电子显微镜及其周边附属设备、实验室分析检测仪器，有数名10年以上经验的工程师团队，技术、值得信赖！ 与欧美仪器设备企业长期保持紧密合作关系，为客户提供高性价比的产品选择，优质的售后服务支持。 企业文化： 科技是企业持续发展的源泉，诚信是企业和员工立足之本。公司通过各种有益培训使得员工具有良好的职业素养和职业技能，尽努力给客户带来好的服务体验。 服务项目：SEM&EDX&Ion Sputter&Ion milling设备销售以及二手产品的回收、置换、租赁及以上设备安装、调试、维修、保养、教育训练、应用培训相关备品配件销售服务时效：电话：两小时内响应到达现场：24小时内
详细信息
专门为电子束敏感样品和需
300
万倍稳定观察的半导体器件，高分辨成像所设计。
特点
新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。
0.4 nm / 30 kV (SE)
1.2 nm / 1 kV (SE)
0.34 nm / 30 kV (STEM)
用改良的高真空性能和电子束稳定性来实现高效率截面观察。
采用全新设计的Super E x B能量过滤技术，高效，灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。
项目
技术指标
二次电子分辨率
0.4nm （加速电压30kV，放大倍率80万倍）
1.2nm （加速电压1kV，放大倍率25万倍）
STEM分辨率
0.34nm（加速电压30kV，晶格象）
观测倍率
底片输出
显示器输出
LM模式
80~10,000x
220~25,000x
HM模式
800~3,000,000x
2,200~8,000,000x
样品台
侧插式样品杆
样品移动行程
X
±4.0mm
Y
±2.0mm
Z
±0.3mm
T
±40度
标准样品台
平面样品台：5.0mm×9.5mm×3.5mmH
截面样品台：2.0mm×6.0mm×5.0mmH
专用样品台
截面样品台：2.0mm×12.0mm×6.0mmH
双倾截面样品台：0.8mm×8.5mm×3.5mmH
信号检测器
二次电子探测器
TOP 探测器（选配）
BF/DF 双STEM探测器（选配）
应用领域：
1. 半导体器件
2. 高分子材料
3. 纳米材料
4. 生命科学
