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olympus 45MG超声波测厚仪: 操作简便、坚固耐用、性能可靠
olympus 45MG超声波测厚仪是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。olympus 45MG超声波测厚仪这款*特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。
olympus 45MG超声波测厚仪在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过zui基本的培训，就可完成zui常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为高级的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪抵御恶劣环境的能力
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪简便操作的设计理念
| 测量 | |
| 双晶探头测量模式 | 从激励脉冲后的精确延迟到*个回波之间的时间间隔。 |
| 自动回波到回波（可选） | 在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
| 穿透涂层测量 （可选） | 利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头） |
| 单晶探头测量模式（可选） | 模式1：激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 模式2：延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头） 模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。 |
| 厚度范围 | 0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量zui全的范围需要使用单晶选项） |
| 材料声速范围 | 0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
| 分辨率（可选择） | 低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸） |
| 探头频率范围 | 标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| olympus 45MG超声波测厚仪一般规格 | |
| 操作温度范围 | -10 °C～50 °C（14 °F～122 °F） |
| 键盘 | 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈 |
| 机壳 | 防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密封。设计符合IP67标准。 |
| 外型尺寸（宽 x 高 x 厚） | 总体尺寸：91.1 mm x 162 mm x 41.1 mm |
| 重量 | 430.9克 |
| 电源 | 3节AA电池/USB电源供应 |
| 电池工作时间 | 3节AA碱性电池：20到21小时 3节AA镍氢电池：22到23小时 3节AA锂离子电池：35到36小时 |
| 标准 | 设计符合EN15317标准 |
| olympus 45MG超声波测厚仪显示 | |
| 彩色透反QVGA显示 | 液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米 x 41.15毫米 |
| 检波 | 全波、RF波、正半波、负半波（波形选项） |
| olympus 45MG超声波测厚仪输入/输出 | |
| USB | 2.0从接口 |
| 存储卡 | zui大容量：2 GB可插拔MicroSD存储卡 |
| 内置数据记录器（可选） | |
| 数据记录器 | 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。 |
| 容量 | 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形 |
| 文件名称和ID编码 | 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码 |
| 文件结构 | 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构 |
| 报告 | 机载报告总结了数据统计和zui小值/zui大值 |
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪标准配置
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪软件选项
奥林巴斯olympus 45MG超声波测厚仪选购附件
