CHY-CB瓦楞芯(原)纸厚度测定仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 

CHY-CB瓦楞芯(原)纸厚度测定仪主要技术特征：
1、专业——CHY-CB采用接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。

• 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
• 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的误差
• 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自主选择
• 实时显示测量结果的zui大值、zui小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
• 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据*性

2、——采用了Labthink研发的嵌入式计算机系统平台，其技术优势和用户体验远超传统的单片机技术。

• 一体化系统设计，采用嵌入式开发技术将专业的检测设备与控制软件合二为一
• 控制系统从根本上杜绝了由计算机病毒、误操作等引起的系统软件故障，保证了设备运行的可靠性与数据的安全性
• 系统搭配标准显示器、鼠标、键盘，采用Windows操作界面，方便用户进行试验操作及数据展示
• 系统内嵌4个USB接口和2个网口，方便系统的外部接入和数据传输

3、智能——搭配了Labthink的操作软件，具有人性化的操作界面和智能化的数据处理功能；同时，在局域网的环境中，还支持Lystem?实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告。

• 传感器标定智能提示，让用户放心使用
• 软件内嵌电子帮助文档，方便用户随时查阅
• 系统支持中英文切换，方便不同语言的用户使用
• 用户多级权限管理，方便实验室管理人员规范设备使用
• 采用嵌入式数据库存储技术，保存每次试验的详细信息，并提供方便、多样的查询功能，用户可按曲线或数据列表等方式查看历史试验数据
• 系统支持试验结果比对，用户在试验开始之前设置标准数值和误差范围，试验完成后系统自动判断各个试验结果是否在标准误差范围之内，并直观的告知用户试样是否合格
• 标定数据恢复功能，有效解决了由误操作带来的不利影响，zui大限度地保证了系统工作的安全性；系统可按用户的方式对关键信息数据进行修复，如各传感器的标定数据恢复操作
• 通过搭配Lystem^TM实验室数据共享系统，试验数据与设备信息仅需简单设置与操作即可上报，轻松实现实验室测试数据的集中化和系统化管理

CHY-CB瓦楞芯(原)纸厚度测定仪执行标准：
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 

CHY-CB瓦楞芯(原)纸厚度测定仪技术指标： 
测试范围：0～2mm（标准）；0～6mm，12mm（可选） 
分辨率：0.1 μm 
测量速度：10 次/min （可调） 
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） 
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
      注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 
电源：AC 220V 50Hz 
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 
净重：37 kg 

CHY-CB瓦楞芯(原)纸厚度测定仪仪器配置：
标准配置：主机、显示器、键盘、鼠标、标准量块
选购件：测量头、配重砝码、打印机（需兼容标准PCL3打印命令语言）、Lystem?实验室数据共享系统 

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