关键词：薄膜厚度测量仪,薄膜厚度测定仪,薄膜测厚仪,薄膜厚度检测仪
　　
Labthink兰光高精度薄膜厚度测量仪CHY-C2A采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
　　
高精度薄膜厚度测量仪CHY-C2A技术指标
负荷量程：0 ～ 2 mm（常规） 
0 ～ 6 mm；12 mm （可选） 
分辨率：0.1 μm 
测量速度：10 次/min （可调） 
测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张） 
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张） 
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制 
电源：AC 220V 50Hz 
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H) 
净重：32kg 

执行标准： 
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

以上信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，垂询！