冷热冲击试验箱方法标准光电温度恢复快

用途：

1. 检测产品可靠性：用于评估产品在快速温度变化下的性能稳定性和可靠性。

2. 筛选元器件：帮助挑选出能适应温度剧烈变化的元器件。

3. 质量把控：确保产品质量符合标准，满足使用要求。

4. 材料研究：分析材料在温度条件下的性能表现。

5. 优化设计：为产品的结构设计和材料选择提供参考。

6. 模拟环境：复现产品在实际使用中可能遇到的温度剧变情况。

7. 产品研发：为新产品的开发提供关键数据支持。

8. 寿命预测：预估产品在不同温度条件下的使用寿命

特点：

1. 两槽设计：由两个温度区组成，分别用于高温和低温。

2. 快速转换：能够快速实现温度的切换。

3. 温度范围广：可覆盖较大的温度范围。

4. 高重复性：保证测试结果的一致性和可靠性。

5. 控制精度高：对温度的控制精准。

6. 适用于多种样品：可以测试不同类型和尺寸的样品。

7. 数据记录与分析：方便对测试过程进行监测和分析。

8. 结构紧凑：占用空间相对较小。

9. 操作简单：易于使用和维护。

10. 可靠性高：具有较长的使用寿命和稳定的性能。

工作原理：

1. 试验箱分为两个区域：高温区和低温区。

2. 样品先放置在高温区，进行高温试验。

3. 经过一段时间后，快速将样品转移到低温区，进行低温试验。

4. 这个转移过程通常在短时间内完成，以实现快速温度变化。

5. 样品在高低温区之间来回交替，重复多次。

6. 在试验过程中，监测和记录样品的性能和状态。

冷热冲击试验箱方法标准光电温度恢复快

技术参数：

试验区温度冲击范围：-65℃～+200℃；-40℃～+150℃；-20℃～+150℃（可定制）  

高温区温度：+60℃～+220℃。

低温区温度：-10℃～-80℃。

高温冲击温度范围：+60℃～+200℃。

低温冲击温度范围：-10℃～-65℃

温度分布均匀度：≤2.0℃