可编程低温测试箱-,可编程低温测试箱北京市宏展仪器有限公司手机版

详细介绍

产品用途

超低湿试验箱，除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下（高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验）..等，去检测产品本身的适应能力与特性是否改变，以及针对产品在（低温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等）环境下是否会发生龟裂、破损，另外在低湿环境中的空气静电量是一般环境的30倍以上，据统计，半导体破坏率：59%是由静电所引起的。
※ 需符合性规范之要求（IEC、JIS、GB、MIL…）以达到间量测程序*性（含测试步骤、条件、方法）避免认知不同，并缩小量测不确定的因素范围发生。

产品特点

控制系统

	* Q8-901 温湿度控制器（韩国*）
	高分辨?彩色触摸屏接口
	交互式参数输入方式
	支持韩文，英文，中文
	提供内置SMPS的I/O RELAY BOARD-接线简化和节省成本
	同时支持干湿球方式及电子湿度传感器
	基于PC的方便监控
	方便设定多达33种的输出（内置计时器）方式
	支持利用UDC300（选项）的USB存储器-可代替记录器
	内置基于*的PID算法的自动调谐功能
	提供强有力的通讯环境和支持99台多分支结构
	的Fuzzy功能和ARW启动-抑制超程
	显示PV曲线（0~8天）

规范条件

执行标准.中国国家标准分为强制性国标（GB）和*性国标（GB/T）
中国国家标准,GB 10586-89湿热试验箱技术条件
中国国家标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
中国国家标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件
　
满足标准
电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热
电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热

美国军用标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度
美国军用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国军用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国军用标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验
美国军用标准,MIL-STD810D方法502.2
美国军用标准,MIL-STD810方法507.2程序3

日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温

美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验

中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温
中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温
中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法
中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验
中国国家标准,GB/T2423.4-93方法

中国国家军用环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验

温湿度控制能力范围表

北京宏展仪器有限公司

地址：北京市丰台区和义东里6区12楼603室

：

传真号码：

: 李慧

公司： http://www.hongzhangroup.com

电子邮件: lh@hongzhangroup.com

产品简介

详细介绍