扫描近场光学显微镜

近场扫描光学显微镜NSOM也习惯称为扫描近场光学显微镜SNOM，是用于纳米材料表征可获得优于光波长分辨率的手段。通常近场扫描光学显微镜与原子力显微镜AFM结合使用，因此近场扫描光学显微镜可以获得材料光学与形貌相关的信息。 参考价面议

NSOMNanonics近场扫描光学显微镜(NSOM)

我们的** NANONICS IMAGING LTD.一直是扫描探针显微镜（SPM）领域中将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)技术上乘结合的。公司成立于1997年，在过去的十年里我们将新的概念应用到SPM系统中从而开拓了SPM市场领域一个新的视角。 Nanonics使用悬臂近场光学探针为业内提供了**性的近场光学成像；同时也引入了双探针技术、样品扫描AFM系统；**个提供 参考价面议

(Near Field Scanning Mircoscope）Nanonics近场扫描光学显微镜(NSOM)

Nanonics近场扫描光学显微镜(NSOM)是用于纳米材料表征可获得优于光波长分辨率的手段。通常近场扫描光学显微镜与原子力显微镜(AFM)结合使用，因此近场扫描光学显微镜可以获得材料光学与形貌相关的信息。近场扫描光学显微镜通常可以获得以下信息： * 反射率的改变 * 透过率的改变 * 折射率、极化、样品材料的改变 * 材料局部应力的改变引起光学性质改变 * 材 参考价面议