(页面价格供参考，具体请联系报价)

RF射频芯片HAST测试

用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

RF射频芯片HAST测试

设备特点

标准设计更安全：内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范；

多重保护功能：各种超压超温、干烧漏电及误操作等多重人机保护；

稳定性更高：内置自研PID控制算法，确保温度、湿度以及压力值准确度。

湿度自由选择：饱和与非饱和自由设定；

智能化高：支持电脑连接，利用usb数据、曲线导出保存。

RF射频芯片HAST测试 测试的步骤

1. 确定测试条件：根据IGBT模块的特性和应用环境，确定相应的温度、湿度等测试条件。例如，可能在121℃的高温环境中，将相对湿度控制在85%以上。

2. 样品准备：选取具有代表性的IGBT模块样品，确保样品的质量和可靠性。

3. 安装与布置：将IGBT模块样品安装在HAST测试设备中，确保设备的稳定性和安全性。

4. 施加应力：按照确定的测试条件，对IGBT模块施加相应的温度、湿度等应力。

5. 监控与记录：对IGBT模块在测试过程中的性能表现进行实时监控和记录，包括电气性能、机械性能等指标。

6. 结果评估：根据测试数据，评估IGBT模块的可靠性和稳定性，确定是否存在潜在问题。

7. 优化与改进：根据测试结果，对IGBT模块的设计和生产进行优化和改进，提高产品的可靠性和稳定性。

RF射频芯片HAST测试 产品特点

1.HAST高压加速老化试验机采用较新优化设计,美观大方，做工精细

2.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业

3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水，试验不中断

4.与试样数量相吻合的试样信号施加端了

5.采用触摸屏，具有USB曲线数据下载功能

6.采用高效真空泵，使箱内达到较佳纯净饱和蒸汽状态

7.一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长

8.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。

9.可根据客户不同需求定制专用HAST试验设备（如: HAST内箱尺寸及偏压可满足客户不同的测试需要）

RF射频芯片HAST测试

满足 IEC60068-2-66、JESD22-A110、JESD22-A118 规范要求

3种控制模式包含：不饱和控制(干湿球温度控制)、不饱和控制(升温温度控制)、湿润饱和控制。

高压加速老化试验箱采用优化设计，美观大方、做工精细，对应 IEC60068-2-66 条件

具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器；具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。