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IGBT-HAST试验箱 高加速老化测试机
¥99999半导体芯片HAST测试高加速老化测试机
¥99999HAST测试机Burn-in Chamber老化测试试验箱
¥99999高加速老化HAST箱HAST测试机Burn-in Oven
¥9999MPI TA-5000热流仪冷热循环冲击气流 维修
¥9999高低温冲击设备气流仪 维修服务
¥9999inTEST ATS-710-M 高低温测试机 维修服务
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¥9999Thermal Air高低温气流冲击系统热流罩 维修
¥9999接触式气流仪高低温冲击测试设备ATC系列
¥99999台式芯片高低温测试机接触式气流仪
¥99999PCB离子迁移测试 试验箱
¥9999ThermoTST气流仪高低温冲击设备
是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更GUAN泛的温度范围-80℃到+225℃,提供了很强的温度转换测试能力。
ThermoTST气流仪高低温冲击设备 特点
温度变化速率快,-55℃至+125℃之间转换约10秒
YOU效温度范围,-80℃至+225℃
结构紧凑,移动式设计
触摸屏操作,人机交互界面
快速DUT温度稳定时间
温控精度±1℃,显示精度±0.1℃
气流量可高达18SCFM
除霜设计,快速清除内部的水汽积聚
ThermoTST气流仪高低温冲击设备 应用
产品的特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验,如:
芯片、微电子器件、集成电路
(SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等)
闪存Flash、UFS、eMMC
PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件
光通讯(如:收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等)
其它电子行业、航空航天新材料、实验室研究
ThermoTST气流仪高低温冲击设备测试标准
满足美国JUN用标准MIL TI系测试标准
满足国内JUN用元件GJB TI系测试标准
满足JEDEC测试要求