薄膜厚度测量仪

薄膜厚度测量仪

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2021-08-25 08:37:27
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北京三尼阳光科技发展有限公司

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产品简介

薄膜厚度测量仪

详细介绍

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尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征
测量迅速，操作简单
非接触式，非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射

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活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸 20㎛ 典型值
测量速度 1~2 sec./site
应用领域
聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
电解质: 740)this.width=740">
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

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