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一、产品介绍：
FLZQ蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件 产业电子零组件金属接脚粘锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制，白金电阻温度传感器（PT-100）,解析度0.1 ℃，全自动安全保护装置。
二、蒸汽老化试验箱主要参数：
型号： | FLZQ340； |
内部尺寸： | 500x400x170 mm； |
外部尺寸： | 600x500x420 mm； |
内外箱体材质： | SUS304#优质不锈钢板； |
保温层： | 保温材料； |
升温时间： | 大约30分钟；控制功能:PID+SSR,数字式显示； |
蒸气温度： | 97℃； |
计时功能： | 1 -9999分钟，附时到报警功能，时间到达后切断电源； |
水位控制： | 附水箱自动补水； |
安全防护： | 超温保护、缺水保护、运行指示灯等； |
电源： | 220V±10% 50Hz 3.0KW； |
备注： | 可根据实际应用需求进行定制。 |
FLZQ老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件 产业电子零组件金属接脚粘锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
FLZQ老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件 产业电子零组件金属接脚粘锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
FLZQ老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件 产业电子零组件金属接脚粘锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
