麸星仪1.0、麸星仪2.0麸星仪
博恩科技的主打产品:面粉加工精度测定仪----“粉师”牌麸星仪,能在20秒之内放大显示并测量出麸星含量、黑点含量、白度、粉色(L、a、b)值,并根据大的麸星判断筛网是否漏窜,保存数据和照片,查询方便,*改变依赖肉眼调整工艺的局面,定期进行粉路测定,通过数据对比,可以判断筛网是否漏窜,工艺是否合理,是粉师的“慧眼”,让普通员工具有粉师的眼力,确保工艺的稳定。 参考价面议SUPnir2700-2720近红外谷物分析仪
博恩科技SupNIR-2720近红外仪简介:采用全息数字式光栅扫描和高灵敏度铟镓砷检测器(TEC制冷恒温)相结合的光学设计,基于漫反射方式进行样品分析,通过外置电脑和RIMP软件实现固体颗粒、片状、粉末样品的快速无损检测。整套系统操作简单,只需要将样品盘放在样品台上,点击测量,仪器自动完成检测分析。RIMP软件全中文显示、用户界面友好、操作简单,可一键化操作仪器进行样品分析 参考价面议