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四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，zui小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的zui小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出；
适用于铝粉、铝材、铜粉、铜材、石墨类产品涂层性质或具有类似性质的低阻值产品的测量，用于生产企业、高等院校、科研部门，航空航天材料检验及分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
自带温度，USB，232通讯接口，直流恒流源系统，提供四探针法和四端法两种测量模式并存，中英两种语言版本选择；选购：PC软件可以获得测试过程数据及变化图表曲线，包括压力与电阻，电阻率，电导率的变化关系，及报表生成，存储，打印等；选购：四探针法粉末测试平台提供全自动平台或手动操作平台两种； 选购配置四探针探头可以用于对涂层，薄膜，等半导体材料方阻的测量.本机采用双电组合测量方法.
规格型号 | FT-361FMA | FT-361FMB |
1.方块电阻范围 | 1×10-6～2×102Ω/□ | 1×10-6～2×105Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10-7～2×103Ω-cm | 10-7～2×106Ω-cm |
3.测试电流范围 | 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA | |
4.电流精度 | ±0.1% | |
5.整机不确定性
| 误差：≤3%（平均重复性误差，人为因数外） | |
6.显示读数： | 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 | |
7.测试方式 | 双电组合测量 | |
8.模具选购： | 模具A内径：20mm ；模具B:内径10mm | |
9.压力选购： | 压力A:0-1000kg； ;压力B:0-200kg | |
10.模腔行程： | 0-30mm ( 样品压实厚度建议在4mm内)
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11.高度测量范围： | 0-25mm分辨率0.01mm | |
12.恒压时间： | 0-999s | |
13.工作电源: | 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<60W | |
14选购: | 1）PC软件1套； 2）自动四探针法粉末测试平台； 3）手动四探针法粉末测试平台； 4）四探针探头及平台 | |
