CH-1-ST测厚仪、薄膜测厚仪简单介绍：
本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。 

CH-1-ST测厚仪、薄膜测厚仪基本参数：
量限:0-1mm
分度值:0.001mm  
上测头曲率半径:15-50mm 
测头对试样施加负荷:0.1-0.5N
测量精度: 100vm以内 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm 
执行标准:GB6672-86 
本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片).

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