品牌
代理商厂商性质
广州市所在地
布鲁克高精度纳米力学测试系统TI 980
面议布鲁克纳米机械性能测试系统NanoForce
面议布鲁克高精度纳米力学测试系统TI Premier
面议布鲁克电镜专用原位纳米力学系统 PI 85L
面议布鲁克电镜专用原位纳米力学测试系统PI 88
面议布鲁克透射电镜专用原位纳米力学系统PI 95
面议多功能材料力学测试系统UMT
面议摩擦磨损试验机UMT-TriboLab
面议纳米红外扫描近场光谱和成像系统Anasys &
面议快速扫描纳米红外光谱Anasys nanoIR2-FS
面议爱丁堡荧光寿命光谱仪LifeSpecII
面议爱丁堡一体化稳态瞬态荧光光谱仪FS5
面议 ContourGT表面计量系列产品
用于生产和研发的非接触式三维光学轮廓仪
30年技术革新,实现非接触式表面测量技术高峰
|
测量硬件的设计增强生产环境中的可靠性和重复性
高度直观的用户界面,拥有业界的操作简便和分析功能强大
震动隔离性能*
ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属铸件,此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果,从而获得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。光学计量模块(OMM)
OMM结合了Bruker的双LED照明光源技术,在任何样品任意放大倍数下均可提供的照明强度和均匀性。OMM还能在整个10mm测量量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含三个视场目镜,以放大倍率的灵活性和稳定性。自校准功能*
ContourGT系列可选择型号中,具有包含Bruker技术的内置一级标准自校准功能的能力,使得闭环扫描的性能。此模块包含一个参考信号,在仪器启动时对系统进行自校准,然后连续监控并校正每次测量,以保证的精确度和重复性。倾斜调整支架*
Bruker的倾斜调整支架设计可使得OMM倾斜,而不是样品倾斜。这样,被测量的样品将总处于聚焦位置,并且在测量的视野中,确保了操作的一致性和简易性。
*这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。自动样品台
在ContourGT-X型号中具有全自动的8英寸或12英寸样品台。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品台。还可选配具有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。塔台
选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉物镜,从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时,您的测试点始终处于聚焦和中心位置。辅助操作灯泡*
在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。