数字式四探针电阻率测试仪型号：SX1944

产品说明   
 　　 四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。　   
产品特点   
 　　四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试仪器。    
　　仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。   
　型号SX1944 
测量范围电阻率：10-4～105Ω-cm 方块电阻：10-3～106Ω/□ 电阻：10-4～105Ω 
可测半导体材料尺寸直径：Φ15～100mm 
测量方位轴向、径向均可 
数字电压表⑴量程： 200mV 
⑵误差：± 0.1% 读数± 2 字 
⑶大分辨力：10μV 
显示 : 4位半数字显示。小数点自动显示 

数控恒流源⑴电流输出：直流电流 0 ～ 100mA 连续可调，由交流电源供电。 
⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA 
⑶误差：± 0.5% 读数± 2 字 

四探针测试探头⑴探 针 间 距： 1mm 
⑵探针机械游移率： ± 1.0% 
⑶探 针： 碳化钨，Φ 0.5mm 
⑷压 力： 0 ～ 2kg 可调 , 大压力约 2kg 

电源输入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W 
外形尺寸主机 260mm （长）× 210 mm （宽）× 125mm （高） 
备注USB 接口，配软件