便携式RoHS分析仪CIT－3000SMP

便携式X荧光分析仪CIT－3000SMP 国产便携式金属元素分析仪 便携式元素分析仪 卤素分析仪

技术参数：
• 分析元素范围：S-U；
•  元素含量分析范围：1ppm-99.99%（采用1024道多道分析器）；
•  采用美国Si (PIN)半导体探测器计数，配合砖利数字脉冲处理技术能量分辨率150±5eV；
•  测量范围：1－40KeV；
•  测量物质状态：固体、粉末、液体均可检测，制样简单；
•  *低检出限：Pb/Hg/Cr/Br:20ppm,Cd:35ppm,Cl:20ppm；(以塑胶标样为例）；
•  校正方式：采用欧盟RoHS 塑胶标样校准数据；
•  重复性： >65% >97%（N为计数率）；
•  高压：5kV-40kV（激发源为进口40KV-钨靶微型X射线管）；
•  管流：1μA-200μA；
•  检测时间：120S～600S；
•  整机功耗：4W；
•  仪器重量：3Kg；
•  稳定的RoHS测试模式；
•  一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；全中文应用软件，操作简单，测量时间短；同时配备PDA，分析仪通过无线蓝牙技术可单独和PDA进行通信测试，方便携带和使用；
•  适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和化合物痕量检测及钢铁、铝业、水泥、有色金属、玻璃、耐火材料等行业全元素的快速检测；
•  适用于各行业进行材料中元素的成分及含量分析；
•  根据欧盟、美国玩具指令的*新*，针对玩具及其相关行业进行*元素成分和含量分析，为企业提供具体可行的应对及解决方案；

产品技术应用：
• 采用美国进口Si（PIN）半导体探测器系列
• 采用*砖利数字脉冲采集电路及砖利电源管理技术
• 采用进口X光管
• 采用进口专用X光管高压电源
• 采用精密的系统控制电路和数字处理电路
• 采用专有的分析算法软件模块V2.0A

产品配置：
• 配备专业的RoHS测试模式
• 配备专用的品牌PDA
• 配备专用的测试薄膜、测试样杯
• 配备专用的测试标样一套

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