TWS蓝牙耳机充电盒开合寿命试验机

MK-011TWS蓝牙耳机充电盒开合寿命试验机

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-11-01 08:30:15
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东莞市迈科仪器设备有限公司

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产品简介

充电盒翻盖寿命试验机型号:MK-011设备简介:充电盒翻盖寿命试验机用于耳机充电盒、翻盖手机、保护套等产品翻盖寿命测试,充电盒翻盖寿命试验机采用触摸屏控制,在一定角度、次数、速度模拟产品翻盖寿命测试

详细介绍

充电盒翻盖寿命试验机

型号:MK-011


设备简介:

充电盒翻盖寿命试验机用于耳机充电盒、翻盖手机、保护套等产品翻盖寿命测试,充电盒翻盖寿命试验机采用触摸屏控制,在一定角度、次数、速度模拟产品翻盖寿命测试。

技术参数:
1、测试工位:两组(同时联动测试)
2、试验角度:0-180度(触摸屏可设且显示)
 3、测试速度:5-60次/分钟(触摸屏可设)
4、翻盖次数:0-次(可预设且断电记忆功能)
 5、摆臂长度:0-100mm(可调节)
6、测试台面高度:0-50mm(可调节)
7、固定治具:可调式,两组
8、测试动作:打开翻盖+闭合关闭
9、控制系统:触摸屏+PLC
10、驱动系统:两组步进电机+减速系统
11、机台尺寸(L×W×H):约500×450×550mm
12、工作电源:AC220V、50Hz


设备特点:
1、箱体采用静电烤漆处理,台面采用纯铝板氧化处理,整机设计合理,结构紧固,运行安全、稳定、准确;
2、角度、次数、速度等参数,触摸屏设置且显示,操作方便、快捷;
3、两组步进电机驱动,一开一合,效率快、噪音小,耐久性强。



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