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数字集成电路测试仪/离线测试仪/集成电路测试仪
一、YB3117型离线一数字集成电路测试仪规格参数
YB3117/YB3118 | |
测试种类 | 可测试TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可编程器件 |
显示方式 | 图形显示(时序显示)、状态显示 |
被测芯片脚数 | 100脚以下 |
zui大输出电流 | 每引脚100mA |
测试速度 | 500kHz/Pin |
中文Windows操作平台 | |
开放式自建芯片的数据库 | |
V-1特性曲线测试 | |
工作温度 | 0°C~30°C |
工作湿度 | 75% |
功耗 | 约45W(不包括供待测板的功耗) |
工作电压 | 220V±10% |
YB3117配台式电脑 | YB3118配笔记本电脑 |
外形尺寸 | 90H×350W×350D(mm) |
质量 | 约4.7kg |
二、离线一数字集成电路测试仪具有zui大测试引脚数100,中文Windows操作平台,开放式自建芯片和数据库的功能。
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的仪器设备。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一,因此,集成电路测试仪作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。40年来,随着集成电路发展到第四代,集成电路测试仪也从zui初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路,到了八十年代,超大规模集成电路测试仪进入全盛时期
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