晶体管测试仪

HR/JL294-3晶体管测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-12-24 12:01:12
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北京恒瑞天创机电设备有限公司

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产品简介

晶体管测试仪测试晶体管的反向击穿电压时,被测管与测试插座的接触必须良好,再按测试键!如果接触不良,在高电压测试的情况下极有可能将被测管损坏!

详细介绍

晶体管测试仪

技术指标:
工作电源:DC 6V ± 5% (单电源)
电源功耗:≤3A
显示方式:0.5"LCD液晶显示
外型尺寸:162×115×80(mm)
整机质量:≈500g(机内不含电池)
功能性技术指标:
VBR 测量范围:0~199.9V/0~1999V
分 辨 力:0.1V/1V
VCE(set)测量范围:0~6.00V
分 辨 力:0.01V
hFE测量范围:0~199.9β~1999β
分 辨 力:0.1β/1β
Iceo测量范围:0~1999uA
分 辨 力:1uA
三端稳压测量范围:0~24.0V
分 辨 力:0.1V
基本误差:±2.5%量程 (环境湿度≤75%RH)
使用注意事项:
1、测试晶体管的反向击穿电压时,被测管与测试插座的接触必须良好,再按测试键!如果接触不良,在高电压测试的情况下极有可能将被测管损坏!
2、测试电容器时不要将电容器插在三极管插座的插孔内测试电容的耐压,也不要先松开关再拔电容,因为这样有可能导致电容器上带的电荷泄放在仪表内部,会将开关触点损坏!建议专测电容耐压的用户选择JL294-3B电压可调型仪表测试电容器的耐压。
3、用户在大批量测试元器件之前请先仔细阅读使用说明书,采取正确的操作方法,并应*行少批量的试验测试,在确定所用的测试方法不会损坏元器件的情况下进行大批量测试!如需大批量检测某一型号的元器件而又无法确定测试方法的,请即致电本公司!
4、仪表各档开关正常工作寿命约为3~4万次;但在2000V高压或2A大电流的负荷下工作寿命将有所下降,约为2万次,如果生产型工厂作为元器件大批量连续测试使用,请提前告知本公司进行更改,否则容易在短期内将开关损坏;如属大批量连续测试而损坏开关的故障不属于免费维修的范围!
5、任何金属和塑料都会因摩擦而产生磨损,仪表的元件测试插座也会因被测元件管脚的频繁插拔而产生磨损,进而影响测试插座和被测管管脚可靠连接,将可能导致测试值不准确或产生高压跳火现象,用户应定期检查或更换元件测试插座。


产品关键词:晶体管测试仪,兆欧表,手摇表,手摇兆欧表,绝缘电阻表

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