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仪电物光WKL-702 颗粒图像分析仪上海仪电物理光学
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详细信息
将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过 数字摄像机将图像传输给电脑，通过 颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理，具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。
1、图像多种处理方法：影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、 亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。
2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。
3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数，以线性或非线性统计方式绘出分布图。
属性
参数
仪器型号
WKL-702
测量范围
0.1～3000（微米）
总放大倍数
8000倍
分辨率
0.1微米/像素
重复性
误差≤±1％
自动分割速度
≤1秒
数字摄像机(CCD)
500万像素
数据储存
电脑另配
通信接口
USB
操作系统
Windows 98/XP/7/8/10系统均可
电源
AC220V ±10％ 200W
仪器尺寸
270mmX410mmX440mm
仪器净重
15kg
