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FT-335 FT-335普通四探针电阻率/方阻测试仪
产品介绍
FT-335
普通四探针电阻率
/
方阻测试仪
按照硅片电阻率测量的国际标准(
ASTM F84
)及标准设计制造该仪器设计符合
GB/T 1551-2009
《硅单晶电阻率测定方法》、
GB/T 1551-1995
《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、
GB/T 1552-1995
《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国
A.S.T.M
标准,本机配置
232
电脑接口及
USB
两种接口,本机结合采用
范德堡测量原理
能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结
详细资料
FT-335
普通四探针电阻率
/
方阻测试仪
按照硅片电阻率测量的国际标准(
ASTM F84
)及标准设计制造该仪器设计符合
GB/T 1551-2009
《硅单晶电阻率测定方法》、
GB/T 1551-1995
《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、
GB/T 1552-1995
《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国
A.S.T.M
标准,本机配置
232
电脑接口及
USB
两种接口,本机结合采用
范德堡测量原理
能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步
,
特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确
.
本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度
AD
芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用
4.3
吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购
.
广泛用于:覆盖膜
;
导电高分子膜,高、低温电热膜
;
隔热、防辐射导电窗膜 导电
(
屏蔽
)
布、装饰膜、装饰纸
;
金属化标签、合金类箔膜
;
熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜
;
电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、
ITO
导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻
半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率
导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料,
EMI
防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等
参数资料
1.方块电阻范围:10
-2
~
2
×10
5
Ω/□
2.电阻率范围:10
-3
~
2
×10
6
Ω-cm
3.测试电流范围:0.1μA,
1μA
,
10μA
,
100µA
,
1mA
,
10mA
,
100 mA
4.电流精度:±0.3%读数
5.电阻精度:≤0.5%
6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式
:
普通单电测量
8.工作电源
:
输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
9.整机不确定性误差
:
≤4%(标准样片结果)
10.选购功能
:
选购
1.pc
软件; 选购
2.
方形探头; 选购
3.
直线形探头; 选购
4.
测试平台
11.测试探头:
探针间距选购:
1mm
;
2mm
;
3mm
三种规格
;
探针材质选购:碳化钨针
;
白钢针;镀金磷铜半球形针
ROOKO/
瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业
.
与精致并重;与智慧之原