起订量:
MK-15J 数显测量显微镜
数显测量显微镜
型号:
MK-15J
设备简介:
数显测量显微镜可测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔外圆直径等等。测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等。数显测量显微镜结构简单,操作方便,适用范围极广。
技术参数:
1、目镜放大倍率10X,焦距5mm
2、物镜
放大倍率
焦距
工作距离
视场直径
2.5X
43.40mm
58.84mm
5.60mm
10X
17.13mm
7.81mm
1.40mm
3、总放大倍数:25X、100X
4、测量工作台
①X轴移动测量范围 :50mm
②Y轴移动测量范围 :13mm
③测微器分度值: 0.01mm
④测量工作台直径 :120mm
⑤测量台转动范围 :不限
⑥测量台刻度盘分度范围 :0°-360°
⑦测量台刻度盘之分度值: 1°
⑧测量台刻度盘游读数示值 :6′
5、测量精度:仪器示值误差:±(5+L/15)μm
仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差
注:测量地点温度变化:20±3℃,L被测件长度(mm)
6、照明:下照明,自然光
7、外形尺寸 :高325×长262×宽220mm
8、机台重量:约10.6kg