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半导体封装测试仪led推拉力测试机

型号
参数
型号:LB-8600 尺寸:660mm*610mm*800mm 重量:95KG 电源:110V/220V@3.0A?50/60HZ 压缩空气:4.5-6Bar 真空输出:500mm?Hg 控制电脑:联想/惠普原装PC 软件运行:Windows7/Windows10正版系统 显微镜:标配双目连续变倍显微镜(选配三目) 传感器更换方式:自动切换 治具:360度旋转,平台可共用各种测试治具 XY轴有效行程:100*100mm? Z轴有效行程:100mm XY轴分辩率:±1um Z轴分辩率:±1um 传感器精度:±0.003% 综合测试精度:±0.25%
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推力测试机,拉力测试仪

深圳市博森源电子有限公司是一家专业研发、生产、销售为一体的推拉力测试机生产厂商,产品主要应用于:微电子行业、半导体封装、LED封装、摄像头模组、功率模块、光纤等封装行业的精密检测,公司设备测试精度已在同行业中处于地位。产品也得到了广大客户的认可。

本公司拥有专业的研发团队,可根据不同客户的需求提供订制化精密测量仪器,满足不同客户的测试需求。产品因其高稳定性,已经替代国外同类的产品。

我们相信,优质的产品质量加专业的技术服务定能满足您的要求。我们将本着诚信、合作、创新、共贏的经营理念真诚对待每一位客户,并通过我们的努力为每一位合作伙伴创造价值。

详细信息

半导体封装测试仪led推拉力测试机

是一种操作简单的设备,具备触摸屏控制功能,可以同时显示各种测试参数和曲线图,如力/时间、力/变形和变形/时间曲线。该试验机专门用于LED样品、线路板等产品的推拉力测试,并可根据客户的需求定制专用夹具。这一设备的引入使得LED样品的推拉力测试更加方便和高效,有效评估产品的可靠性和耐久性。

设备特征:

1、釆用测试工位自动模式,在软件选择测试工位后,系统自动到达对应工作位。

2、每项传感器采用独立防碰撞及过力保护系统。

3、三个工作伎感器,釆用独立采集系统,保证测试精度。

4、软件自动生成报告及存储功能,支持MES系统。

5、荷重单位显示N、lb、gf、kgf可自由切换。

6、人性化的操作界面,入员操作方便。

7、每项测试工作釆用独立安全限位及限速功能。

8、智能数据分析软件,自动记录并计算多点测试数据的Cpk值,可记录单点测试的力值、时间曲线。

9、根据客户测试需求,非标定制各种测试夹具,有效确保用户测试数拥的真实性。

半导体封装测试仪led推拉力测试机

主要功能:

1、引线与晶片电极及框架粘接度拉力测试。

2、焊点与晶片电极粘接力推力测试:焊点与框架表面粘接力推力测试。

3、晶片与支架表面粘接力推力测试。

4、配备电脑可实时显示拉力曲线。

5、模组采用动态传感器及高速力值采集系统。

6、设备平面可满足各种治具的灵活切换。

设备测试参数:

设备型号:LB-8600

外形尺寸:660mm*610mm*800mm(含左右操作手柄)

设备重量:约 95KG

电源供应:110V/220V@3.0A

50/60HZ

气压供应:4.5-6Bar

控制电脑:联想/惠普原装PC

电脑系统:Windows7/Windowsl0 正版系统

显微镜:标配高清连续变倍显微镜(可选配三目显微镜+高清CCD相机)

传感器更换方式:自动更换(在软件选择测试项目后,相应传感器自动至测试工位)

平台治具:360度旋转,平台可共用各种测试治具

XY轴丝杆有效行程:100mm*100mm 配真空平台可拓展至200mm*200mm,大测试力100KG

XY轴大移动速度:采用霍尔摇杆对XY轴自由控制,大移动速度为6mm/S

XY轴丝杆精度:重复精度±5um 分辨率≤0.125 : 2mm以内精度±2um

Z轴丝杆有效行程:100mm 分辨率≤0.125um,大测试力20KG

Z轴大移动速度:采用霍尔摇杆对Z轴自由控制,大移动速度为8mm/S

Z轴丝杆精度:±2um 剪切精度2mm以内精度±lum

传感器精度:传感器精度土0.003%:综合测试精度土0.25%

设备治具:根据样品或图纸按产品设计治具(出厂标配一套)

设备校正:设备出厂标配相应校正治具及砝码一套

质量保证:设备整机质保2年,软件身免费升级(人为损坏不含)

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产品参数

型号 LB-8600
尺寸 660mm*610mm*800mm
重量 95KG
电源 110V/220V@3.0A?50/60HZ
压缩空气 4.5-6Bar
真空输出 500mm?Hg
控制电脑 联想/惠普原装PC
软件运行 Windows7/Windows10正版系统
显微镜 标配双目连续变倍显微镜(选配三目)
传感器更换方式 自动切换
治具 360度旋转,平台可共用各种测试治具
XY轴有效行程 100*100mm?
Z轴有效行程 100mm
XY轴分辩率 ±1um
Z轴分辩率 ±1um
传感器精度 ±0.003%
综合测试精度 ±0.25%

规格类型

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