精度高达

0.0002

毫米

/0.000008

英寸的测量仪器可确保获得准确结果。

DIATEST

已通过

DIN ISO 9001

认证。面向未来的制造技术（工业

4.0

，

...

）、训练有素的精密工程技术人员和工程知识保证了高的质量标准。无论是标准解决方案还是客户特定解决方案，

DIATEST

测量仪器都以应对未来的任务

浮动支架可补偿位置误差，例如在使用检查台或固定装置时或在机器中进行自动测量时。根据任务的不同，提供具有不同螺纹和附加功能（冲击安全反冲、空气供应

……

）的不同浮动支架。它们可以

与分体式球探头、塞规

BMD

或多平面塞结合使用

DIATEST

测头

DIATEST

塞规测头

DIATEST

孔径测量仪

DIATEST

两瓣头测头

DIATEST

两瓣头

DIATEST

孔径测量仪

DIATEST

备件

diatest

赛规侧头

BMD-

允许静态和动态测量

检测尺寸偏差和形状缺陷

作为直接在机器上钻孔的手动工具

安装在测量夹具和机器中

标准程序中有多种基本类型可供选择，并辅以有用的附件，确保可以精确测量当前实践中遇钻孔。其灵活的平台允许的应用：

标准孔和通孔：从

2.0

到

270

毫米，

盲孔测量（平底）：从

2,0 (T-BMD-FB)

到

150 mm

，

外径测量：从

20

到

100

毫米，

多平面塞规：从

21

毫米，

内齿轮量规：从

10 mm

圆柱直径

3

点测量：从

8.0

到

100

毫米，

适用于

2.0 mm

至

3.0 mm

的极小直径

平行距离测量：从

1.0 (T-BMD-PA)

到

30 mm

特殊尺寸、形状和型号，例如锥形孔

测量范围的扩展或限制、测量压力的调整、气源

……

重复性：

2

点设计

=< 1 µm

三点设计

=< 2 µm

diatest

赛规侧头

BMD-

测量接触材料的选择取决于工件的成分和设计：

碳化物，

硬铬，

陶瓷制品，

红宝石，

塑料，

钻石。

机械或数字指示器

DIATRON1000

探头，包括测量柱

DIATRON2200

可用于显示结果

Multiplane BMD DIATRON MultiFire

可以集成到

DIAWIRELESS

网络中。

诸如

DIATRON6060-µNetwork

之类的设备允许进行统计评估、集成到网络、机器控制等等。

diatest

赛规侧头

BMD-

零位设置应使用设置主控器进行，例如根据

DIN 2250-C

规范的设置环。

快速维护和维修服务提供翻新和全面测试的塞规。通常不需要购买新的插头。

BMD

可以经济地使用多年。

广泛的应用和简单的操作与高精度和坚固的设计相结合，证明了

BMD

系统的经济效率。根据要求提供特殊解决方案。

好的线性化

——更高的测量确定性！

与来传统标准塞规相比，新开发的

DIATEST BMD XQ

减少了高达

50%

的线性偏差。

德国diatest塞规侧头BMD

德国diatest塞规侧头BMD