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薄膜测厚仪
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详细信息
—— 主要用途 ——
薄膜测厚仪CHY-CA主要适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片等各种材料的厚度精确测量。广泛适用于质检机构、研究院校以及对薄膜厚度有严格要求的薄膜生产企业、使用单位。
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB/T6672-2001 MOD ISO 4593-1993 标准。
—— 功能特点 ——
—— 技术指标 ——
1•测量范围：0-10mm
2•分度值：0.001㎜
3•上测头曲率半径：15～50㎜
4•测头对试样施加负荷：0.1～0.5N
