产品介绍

FT-335

普通四探针电阻率

/

方阻测试仪

按照硅片电阻率测量的国际标准（

ASTM F84

）及标准设计制造该仪器设计符合

GB/T 1551-2009

《硅单晶电阻率测定方法》、

GB/T 1551-1995

《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、

GB/T 1552-1995

《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国

A.S.T.M

标准，本机配置

232

电脑接口及

USB

两种接口，本机结合采用

范德堡测量原理

能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结

详细资料

FT-335

普通四探针电阻率

/

方阻测试仪

按照硅片电阻率测量的国际标准（

ASTM F84

）及标准设计制造该仪器设计符合

GB/T 1551-2009

《硅单晶电阻率测定方法》、

GB/T 1551-1995

《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、

GB/T 1552-1995

《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国

A.S.T.M

标准，本机配置

232

电脑接口及

USB

两种接口，本机结合采用

范德堡测量原理

能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步

,

特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确

.

本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度

AD

芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用

4.3

吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购

.

广泛用于：覆盖膜

;

导电高分子膜，高、低温电热膜

;

隔热、防辐射导电窗膜 导电

(

屏蔽

)

布、装饰膜、装饰纸

;

金属化标签、合金类箔膜

;

熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜

;

电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、

ITO

导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻

半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率

导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料，

EMI

防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等

参数资料

1.方块电阻范围：10

-2

～

2

×10

5

Ω/□

2.电阻率范围：10

-3

～

2

×10

6

Ω-cm

3.测试电流范围：0.1μA，

1μA

，

10μA

，

100µA

，

1mA

，

10mA

，

100 mA

4.电流精度：±0.3%读数

5.电阻精度：≤0.5%

6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率

7.测试方式

:

普通单电测量

8.工作电源

:

输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W

9.整机不确定性误差

:

≤4%（标准样片结果）

10.选购功能

:

选购

1.pc

软件； 选购

2.

方形探头； 选购

3.

直线形探头； 选购

4.

测试平台

11.测试探头：

探针间距选购：

1mm

；

2mm

；

3mm

三种规格

;

探针材质选购：碳化钨针

;

白钢针；镀金磷铜半球形针

ROOKO/

瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业

.

与精致并重；与智慧之原