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起订量：
AXIS-ULTRA DLD X射线光电子能谱仪
- 型号
- AXIS-ULTRA DLD
上海仁特检测仪器有限公司(Shanghai Inteli-test Instruments Co.,Ltd.）是一家集研发、设计、生产、销售为一体的*。多年以来公司致力于冶金、化工、建筑、食品、制药、教育、海关商检及质量技术监督等多个领域提供完善的实验室系统集成解决方案。
详细信息
规 格：
型 号：AXIS-ULTRA DLD
数 量：
品 牌：岛津
包 装：
价 格：面议
AXIS-ULTRA DLD型X射线光电子能谱仪由岛津制作所的全资子公司--英国KRATOS公司生产，是实时成像XPS的产品，空间分辨率小于3μm。
仪器特点：
1. 能够与多种测定技术集成
AXIS-ULTRA DLD型标准配备了具有多个国际标准窗口的样品处理室，作为样品的前处理腔，功能强大且扩展性强。能够对应样品加热制冷及具有反应功能的样品反应池，多样品停放器等许多选购件。样品分析室可以增加UPS、FE-AES、ISS等分析方法，可以组合成复合分析装置。
2. 延迟线探测器（DLD）系统
采用了新研发的延迟线探测器。既可以生成谱图又可以生成图像。各测定模式均可以提供正确的脉冲计数。不仅可以在描谱仪模式下，通过128个检测通道提供高灵敏度的测定，还可以不通过分析器的能量扫描，利用快速非扫描的“快照”谱仪模式瞬间测定窄扫描谱。成像模式能够提供256×256像素、空间分辨率小于3μm的高分辨率图像。
3. 平行成像和微区谱图
采用平均半径达
165mm
的大型静电半球分析器与成像专用的球镜分析器（
Kratos
）组合的合成分析器。在进行化学状态分析、深度方向分析等的谱仪分析时，通过大型静电半球分析器能够提供高能量分辨率、高灵敏度的测定。多点微区测定时利用输入透镜内的光电子偏转系统，能够实现准确的点分析。
利用球镜分析器进行平行成像。光电子成像的空间分辨率小于
3μm
，能够在谱仪测定的同时，极短时间内得到高分辨率图像。
