大连力迪供应芬兰

KxS Technologies Oy半导体浓度监测仪

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KxS Technologies Oy半导体浓度监测仪

，

德国

总部直接采购，近

30年进口工业品经验,原装产品,支持选型，为您提供一对一好的解决方案：货期稳定，快速报价，价格优，设有8大办事处提供相关售后服务

。

公司简介：

大连力迪供应芬兰

KxS Technologies Oy 半导体浓度监测仪，

KxS Technologies 致力于先进、最现代的液体浓缩技术，帮助半导体、生物加工、食品、糖、化学品以及纸浆和造纸行业的广泛客户生产更多高质量的消费产品。 

KxS 专注于在线浓度监测技术的开发，并不断通过 DCM 过程折射仪取得突破，该折射仪设计坚固、体积小，可确保任何液体过程的可靠性和准确性。

主要型号：

DCM-10

芬兰

KxS Technologies Oy 半导体浓度监测仪产品介绍：

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KxS Technologies Oy 半导体浓度监测仪产品。

在整个晶圆厂分销链中，当需要平衡半导体化学浓度测量的成本、速度和准确性时，原位折射率已成为行业标准。

KxS 半导体DCM-10 晶圆厂化学监测器经过设计，可以：

定义进料清洁化学品浓度和原始

CMP 浆料密度。

实现并确保在铜、钨和层间电介质平坦化应用中使用的胶体二氧化硅型

CMP 浆料中精确的 H2O2 浓度和 DI 水稀释度。

将浓度测量结果与缓冲氧化物蚀刻（

BOE）等工艺中的晶圆蚀刻速率（ER）关联起来。

优化湿法带钢旋压工具中蚀刻后残留物

消

除剂（如

EKC265™）的使用寿命。

我们的半导体晶圆厂化学监测器适用于多种应用，包括：

SC-1 和 SC-2 的化学混合物校验和

使用

NH3 水混合物进行硬掩模蚀刻

使用

50% KOH 进行硅湿法蚀刻

使用

H2SO4:HNO3:H3PO4 混合物蚀刻钛

使用

HF:HNO3 混合溶液蚀刻背面聚合物

使用各种混合物进行

CMP 后清洁

我们的技术能够监测各种关键的半导体化学品，包括但不限于：

过氧化氢（

H2O2）

氢氧化铵（

NH3水）

稀氢氟酸（

HF）

磷酸（

H3PO4）

盐酸（

HCl）

氢氧化钠（

NaOH）

硫酸（

H2SO4）

N-甲基吡咯烷酮（NMP）

四甲基氢氧化铵

(TMAH)

异丙醇

(IPA)

氢氧化钾（

KOH）

硝酸（

HNO3）

聚乙二醇

(PEG)

柠檬酸（

C6H8O7）

乙酸（

CH3COOH）

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KxS Technologies Oy 半导体浓度监测仪优势特点

Ø 

所有测量功能都集成在传感器中

——无需发射器

Ø 

监测器适用于多种应用

Ø 

测量输出选项包括模拟和数字通信协议

Ø 

可以通过传感器的数字端口连接各种尺寸的外部显示器。使用带有网络浏览器的计算机、平板电脑或手机访问传感器的诊断和设置。

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KxS Technologies Oy 半导体浓度监测仪主要应用：

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KxS Technologies Oy 半导体浓度监测仪，利用 KxS Technologies 的先进解决方案和知识，在您的化学监测过程中体验精度和效率。。